集成电路三温测试设备-天一瑞合仪器设备公司

温度变化试验分为三类： 1、规定转换时间的快速温度变化试验，转换时间分为：2～3min，20～30s，<10s 。 2、规定温度变化速率的温度变化试验，试验箱的温度升降变化速率不超过５min内的平均值应为1± 0.2℃ /min， 3± 0.6℃ /min， 5± 1℃ /min 。 3、两液槽温度快速变化试验，集成电路三温测试设备原理，产生一种急剧的热冲击，适用于玻璃-金属密封及类似的试验样品.低温槽装有标准规定的低温液体，集成电路三温测试设备，若没有规定则液体温度应为０℃，高温槽装有标准规定的高温液体，若没有规定，则液体温度应为100℃。

冷热冲击试验箱工作原理

冷热冲击试验箱是用于测试材料在瞬间切换高低温环境，反应材料的急剧变化时对材料的性能影响，集成电路三温测试设备有什么用处，冷热冲击试验机模拟了高温、低温之间的骤变情形，在瞬间下经---温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在很短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害能够---的检测出试验样品在冷热交替环境下发生的物理和化学上的性质变化，快速实验材料的使用中的状况，高低温冲击试验箱帮助企业在研究---产品材料的稳定性提供真实数据。